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Hola,
Tengo este problema:
Se caracteriza una muestra dieléctrica delgada que se ha hecho crecer sobre un sustrato de cristal. Disponemos de un espectrofotómetro que puede iluminar la muestra entre 300 i 1200nm. El aparato padece un desajuste de modo que la luz incide con un ángulo de 8º. Se observa la presencia de máximos en las longitudes de onda: 353, 436,577 i 859 nm. La transmitancia para estos máximos es de 0.92.
Tomar:
Debo hallar los valores que puede tomar n i d. El orden de los máximos. En las condiciones elegidas hallar el valor de la transmitancia de los mínimos.
¿Puede alguien darme alguna idea? ¿Es posible hallar esto analíticamente con esta información?
Muchas gracias.
Tengo este problema:
Se caracteriza una muestra dieléctrica delgada que se ha hecho crecer sobre un sustrato de cristal. Disponemos de un espectrofotómetro que puede iluminar la muestra entre 300 i 1200nm. El aparato padece un desajuste de modo que la luz incide con un ángulo de 8º. Se observa la presencia de máximos en las longitudes de onda: 353, 436,577 i 859 nm. La transmitancia para estos máximos es de 0.92.
Tomar:
Debo hallar los valores que puede tomar n i d. El orden de los máximos. En las condiciones elegidas hallar el valor de la transmitancia de los mínimos.
¿Puede alguien darme alguna idea? ¿Es posible hallar esto analíticamente con esta información?
Muchas gracias.